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KEITHLEY/4200-SCS/Keithley 4200-SCS 半導體特性分析系統(tǒng)

KEITHLEY/4200-SCS/Keithley 4200-SCS 半導體特性分析系統(tǒng)
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Keithley 4200-SCS 半導體特性分析系統(tǒng)/KEITHLEY縮略圖

詳細資料：

產(chǎn)品描述：

Keithley 4200-SCS 是一款實驗室級的半導體特性分析系統(tǒng)，Keithley 4200-SCS 半導體特性分析系統(tǒng)主要用于器件 I-V/C-V 特性測量、可靠性與耐久性測試等場景。該系統(tǒng)支持二端、三端、四端電子器件測試，適配 wafer 測試需求。它內置嵌入式 PC 機，采用 Windows 操作環(huán)境，配備自動記錄系統(tǒng)和點擊式交互界面以加速數(shù)據(jù)獲取，配置大于 120GB 硬盤、USB 接口及以太網(wǎng)接口。系統(tǒng)可集成多種模塊，如脈沖式 I-V 功能模塊、Stress/Measure 可靠性測試模塊等，還可連接 Keithley KITE 環(huán)境控制外圍設備，兼容 Cascade Microtech Summit 12K 系列探針臺。

產(chǎn)品特點：

高精度與高分辨率：獨特的遠端前置放大器，可將 SMU 的分辨率擴展至 0.1fA，當配置選配的 4200-PA 遠程前端放大器時，電流測量分辨率可低至 10aA，能滿足超低電流測量需求，如確定 FET 的柵極泄漏電流等。

功能豐富多樣：核心采用世界一流的源測量單元（SMU），可提供電壓或電流，并以高分辨率和精度同時測量電壓和電流，實現(xiàn) I-V 同步測量。還具備超低頻率 C-V 測量技術，無需 LCR 儀表或電容模塊即可執(zhí)行超低頻率電容電壓測量。此外，系統(tǒng)集成了脈沖式 I-V 功能、示波與脈沖測量功能等。

軟件功能強大：配備 Clarius TM 基于 GUI 的軟件，提供了清楚的測量和分析功能，擁有樹形結構項目設計，允許用戶無需編程即可調整和修改測試順序，還具備自動數(shù)據(jù)顯示、算法分析和實時參數(shù)提取功能。軟件中包含 450 多項應用測試，可幫助用戶快速開始測試。