SANTEC/PEM-340/Santec PEM-340 消光比測試儀

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詳細資料：

產品描述：

Santec PEM-340消光比測試儀采用專利技術制造，可實現(xiàn)1260~1630nm全波段測量，該消光比測試儀具有極高的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達50dB的消光比，并且配備了GPIB接口，適用于偏振光軸調整的光學元器件裝配及保偏光纖熔接的質量控制及檢測等領域。

技術參數(shù)：

• 波長：1260~1630nm
• PER測量動態(tài)范圍：50 dB
• 輸入功率：-40至+10 dBm/正常功率，-25至+20dBm/高功率
• 功率精度：<±0.3dB
• 電源：AC100-240

儀器保證：

我們的大多數(shù)設備在裝運之前均經過嚴格的質量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。