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產(chǎn)品分類 |
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 鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī) 恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備 高低溫試驗(yàn)機(jī) 振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 環(huán)保測(cè)試儀 冷熱沖擊箱 精密烤箱 老化房 |
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SANTEC/PEM-320/Santec PEM-320 偏振消光比測(cè)試儀
- SANTEC/PEM-320/Santec PEM-320 偏振消光比測(cè)試儀
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詳細(xì)資料：
產(chǎn)品描述
Santec PEM-320 是一款高精度偏振消光比（PER）測(cè)試儀，專為光纖系統(tǒng)及光組件的偏振特性分析設(shè)計(jì)，廣泛應(yīng)用于電信通信、光學(xué)研發(fā)及光組件測(cè)試場(chǎng)景。其具備寬波長(zhǎng)兼容、快速測(cè)量及高功率輸入處理能力，支持保偏光纖對(duì)準(zhǔn)、光信號(hào)分析及自動(dòng)化測(cè)試設(shè)置，結(jié)構(gòu)緊湊可靠，適配實(shí)驗(yàn)室研發(fā)與生產(chǎn)線長(zhǎng)期運(yùn)行需求。
主要特點(diǎn)
- 測(cè)量范圍與精度：PER 測(cè)量范圍 0-30dB，PER＜30dB 時(shí)分辨率 0.1dB，PER＞30dB 時(shí)分辨率 0.3dB，測(cè)量精準(zhǔn)
- 波長(zhǎng)兼容性：支持 980nm、1310nm、1480nm、1550nm 主流光通信波段，適配多場(chǎng)景測(cè)試
- 測(cè)量速度：提供 0.1 秒、0.2 秒、0.4 秒三檔測(cè)量速率，平衡效率與精度
- 功率輸入：支持 - 10 至 + 20dBm 光功率輸入，適配多種光信號(hào)強(qiáng)度
- 接口配置：配備 PD 模擬輸出與 GPIB 接口，支持遠(yuǎn)程控制與系統(tǒng)集成
- 連接規(guī)格：采用 FC/APC 接口，兼容主流光組件連接需求
- 設(shè)計(jì)特性：結(jié)構(gòu)緊湊可靠，適配實(shí)驗(yàn)室研發(fā)與現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試雙重場(chǎng)景
- 應(yīng)用適配：專為保偏光纖對(duì)準(zhǔn)、光組件偏振特性表征設(shè)計(jì)，滿足自動(dòng)化測(cè)試需求
儀器保證：
我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運(yùn)之前均經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)與校驗(yàn)。也可申請(qǐng)國(guó)家計(jì)量證書。
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