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光源與光偏振
SANTEC/PEM-320/Santec PEM-320 偏振消光比測(cè)試儀
- SANTEC/PEM-320/Santec PEM-320 偏振消光比測(cè)試儀
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詳細(xì)資料:
產(chǎn)品描述
Santec PEM-320 是一款高精度偏振消光比(PER)測(cè)試儀,專為光纖系統(tǒng)及光組件的偏振特性分析設(shè)計(jì),廣泛應(yīng)用于電信通信、光學(xué)研發(fā)及光組件測(cè)試場(chǎng)景。其具備寬波長(zhǎng)兼容、快速測(cè)量及高功率輸入處理能力,支持保偏光纖對(duì)準(zhǔn)、光信號(hào)分析及自動(dòng)化測(cè)試設(shè)置,結(jié)構(gòu)緊湊可靠,適配實(shí)驗(yàn)室研發(fā)與生產(chǎn)線長(zhǎng)期運(yùn)行需求。
主要特點(diǎn)
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測(cè)量范圍與精度:PER 測(cè)量范圍 0-30dB,PER<30dB 時(shí)分辨率 0.1dB,PER>30dB 時(shí)分辨率 0.3dB,測(cè)量精準(zhǔn)
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波長(zhǎng)兼容性:支持 980nm、1310nm、1480nm、1550nm 主流光通信波段,適配多場(chǎng)景測(cè)試
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測(cè)量速度:提供 0.1 秒、0.2 秒、0.4 秒三檔測(cè)量速率,平衡效率與精度
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功率輸入:支持 - 10 至 + 20dBm 光功率輸入,適配多種光信號(hào)強(qiáng)度
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接口配置:配備 PD 模擬輸出與 GPIB 接口,支持遠(yuǎn)程控制與系統(tǒng)集成
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連接規(guī)格:采用 FC/APC 接口,兼容主流光組件連接需求
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設(shè)計(jì)特性:結(jié)構(gòu)緊湊可靠,適配實(shí)驗(yàn)室研發(fā)與現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試雙重場(chǎng)景
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應(yīng)用適配:專為保偏光纖對(duì)準(zhǔn)、光組件偏振特性表征設(shè)計(jì),滿足自動(dòng)化測(cè)試需求
儀器保證:
我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運(yùn)之前均經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)與校驗(yàn)。也可申請(qǐng)國(guó)家計(jì)量證書。