Keysight/U9320B/8500B場發射掃描電子顯微鏡

• Keysight/U9320B/8500B場發射掃描電子顯微鏡
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詳細資料：

主要特性與技術指標
分辨率和成像相當于傳統的FE-SEM
完全集成的EDS功能允許定量元素分析
可變低電壓使對導電涂覆樣品的需要最小化
可編程的X / Y / Z平臺允許用戶設置精確的坐標，掃描和保存位置
靜電透鏡設計確保可重復的性能，無需持續重新調諧
緊湊的尺寸可以方便地安裝在任何研究實驗室（無需特殊設施）
研究資源

FE-SEM圖像庫
描述
非常緊湊的Keysight 8500B場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）已針對低電壓成像，極高的表面對比度和分辨率進行了優化。這種創新的技術先進的系統還提供完全集成的能量色散光譜（EDS）能力，允許在任意點，連續線掃描或用戶定義的區域地圖上進行定量元素分析。它可以檢測元素如碳，直到as。

易于安裝的即插即用8500B設計用于幾乎任何實驗室，只需要一個交流電源插座。這種新型的科學級系統提供了幾種低電壓成像技術，增強表面對比度，并允許在多種納米結構材料（包括聚合物，薄膜，生物材料和其他能量敏感樣品）上觀察納米級特征，甚至玻璃。

儀器保證：

我們的大多數設備在裝運之前均經過嚴格的質量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。