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Keysight/N4156A/損耗與偏振相關損耗的測量
- Keysight/N4156A/損耗與偏振相關損耗的測量
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詳細資料:
描述
N4156A高性能測量解決方案提供快速精確的插入損耗(IL)與偏振相關損耗(PDL)測量,設置簡便,能在研發(fā)與制造環(huán)境中很好地提供波長相關光器件的特性描述。
將測試成本降至最低、把吞吐量增至最高
該系統(tǒng)設置簡便,特為多路轉換器/信號分離器或濾光器等關鍵DWDM無源器件的啟動制造商設計。在研制和最后測試中,此類器件的制造商需要高性能的測量解決方案,從而最大限度地提高吞吐量與產量,降低成本。
本產品的卓越優(yōu)點是:
- 通過縮短面市時間,降低測試成本
N4156A包括光子分析工具箱,該工具箱系可執(zhí)行測量應用軟件,帶有一個便捷的用戶界面,用于插入損耗和偏振相關損耗的測量以及光譜轉移功能的分析。
光基礎程序庫(PFL)也是N4156A的組成部分, 綜合匯集了光器件測量與分析中最廣為使用的功能。 它包括精密測量與儀器控制功能,具有完備的數(shù)據(jù)分析與處理能力。 有了PFL,就能方便快捷地執(zhí)行量身定制的測量任務以及具有批量處理能力的測試解決方案。
- 高產出來自卓越的系統(tǒng)性能。
由于N4156A的波長不確定性為±1 pm,波長分辨率為0.5 pm,因此用它分析超窄帶器件(小于等于25 GHz)能有上佳表現(xiàn)。
系統(tǒng)擁有高性能可調諧激光光源與低PDL功率傳感器,因此能獲得最準確的插入損耗與偏振相關損耗結果。
PFL經過是德硬件產品的適用優(yōu)化,通過內嵌的測量技術訣竅,進一步提高了測量的準確性。這包括自動采用功率計平均次數(shù),用于偏振相關損耗測量的先進 Mueller方法,糾正掃頻波長系統(tǒng)中的延遲和失真效應。
- 靈活性強,投資有保障。
N4156A建立在是德處于市場領先地位的光波測量系統(tǒng),將滿足現(xiàn)在和未來的測試要求。 額外多重通道和其他種類的測試設備可以很方便地添加到N4156A輸入層設置上。
- 投資回報
N4156A與經過實踐檢驗的是德部件相結合,能夠提供具有良好成本效益的測試解決方案。
儀器保證:
我們的大多數(shù)設備在裝運之前均經過嚴格的質量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。