技術指標

• 4 個測試接入端口（分接）
• 22.5 MHz TCK（測試時鐘）
• 每個分接 9 路通用輸入/輸出（GPIO）
• 覆蓋擴展技術――對非掃描元器件進行快速測試

主要特性

• 一流的用戶界面
• 電壓監測
• 可行的引腳級故障報告
• 系統內編程

應用

• 綜合掃描路徑鏈接器（Scan Path Linker）
• 免費的邊界掃描描述語言（BSDL）驗證器
• 支持 Intel ® Silicon View 技術（Intel® SVT）

x1149 是工程師用來執行結構測試（例如對 PCBA 的開路和短路測試）的工具。它還可以對 FPGA 和 CPLD 等器件執行系統內編程。

此外，x1149 可對 PROM（可編程只讀存儲器）器件進行編程，并可對 DDR SDRAM（雙數據速率同步動態隨機存儲器）進行存儲器驗證測試。

x1149 完全符合 IEEE 1149.1 邊界掃描標準，能夠對包含邊界掃描器件的 PCBA 的大部分區域進行測試。另外，創新的覆蓋擴展技術將測試范圍擴展到 IEEE 1149.1 器件之外――可對連接器、插座和非 IEEE1149.1 器件進行測試。Keysight x1149 還支持 IEEE 1149.6 交流耦合總線標準。

利用內置的掃描鏈鏈接器（scan chain linker），它能夠加入多個掃描鏈，最大限度地擴大對邊界掃描器件之間互連節點的測試范圍。