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半導體參數(shù)分析儀
Keysight/4155B/銷售,租賃|是德科技 4155B 半導體參數(shù)分析儀
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詳細資料:
產(chǎn)品介紹:
安捷倫4155B半導體參數(shù)分析儀提供四個內(nèi)置電源/監(jiān)視器單元(SMU)、兩個電壓源單元(VSU)和兩個電壓監(jiān)視器單元(VMU)。HP 4155B最適合于基本的半導體應(yīng)用,具有非開爾文連接、10V分辨率和100mA/100歐姆測量范圍。
特征:
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高分辨率/精度和寬范圍。一: 1 fA至1 A(20 fA偏移精度),V:1µV至200 V
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采用直流或脈沖模式的全自動I-V掃描測量
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最多可擴展6個SMU
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同步應(yīng)力/測量功能
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兩個高壓脈沖發(fā)電機組(±40 V)
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時域測量:60µs–可變間隔,最多10001點
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易于使用:旋鈕掃掠類似于曲線跟蹤器
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自動分析功能
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自動化:內(nèi)置HP Instrument BASIC,觸發(fā)I/O功能
儀器保證:
我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運之前均經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。