Tektronix/TLA7000 /邏輯分析儀

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詳細資料：

功能	優(yōu)勢
MagniVu™ 采集	所有通道上有更高的采樣分辨率（高達 20 ps），在時基或狀態(tài)采集模式中可完全避免錯過事件。
iCapture™ 復用	通過單個邏輯分析儀探頭，在數(shù)字和模擬同時采集時避免雙探。
標示毛刺	獨特的功能同時顯示發(fā)生毛刺時的時間和通道，無需手動搜索所有通道。
TS/TH 違例觸發(fā)	實時違例觸發(fā)可自動采集間歇性建立和保持違例，消除監(jiān)視電路輸出時的耗時復雜工作。
iView™ 顯示	一臺顯示器上顯示時間相關的集成模擬和數(shù)字數(shù)據(jù)，獲得完整的系統(tǒng)信息。
iVerify™ 分析	使用示波器生成的圖形通過多通道總線分析快速查找信號完整性問題。
自動測量	通過高級測量方便概述設計的性能：頻率、周期、脈寬、占空比和邊沿計數(shù)。
拖放式觸發(fā)	通過簡單直觀的觸發(fā)設置，快速隔離事件。觸發(fā)包括：通道邊沿、通道值、總線值、多組值、毛刺、建立和保持違例、或在任何方面觸發(fā)。

儀器保證：

我們的大多數(shù)設備在裝運之前均經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。