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其它/XDV-SDD/X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 全新
詳細資料:,
產(chǎn)品描述:
XDV-SDD 是一款臺式測量儀器,測量門向上開啟,側(cè)面開槽設(shè)計。它配備了馬達驅(qū)動、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺,以及馬達驅(qū)動、可切換的準直器和基本濾片。儀器采用帶鈹窗口的微聚焦鎢管,三擋可調(diào)節(jié)高壓,6 個可切換的基本濾片,最多可同時測定從鋁(13)到鈾(92)中的 24 種元素。
產(chǎn)品特點:
高性能探測器:采用 50mm² 超大有效面積的高分辨率硅漂移探測器,可精確無損地測量最薄的層,例如能測定 2 納米以下的金涂鍍層厚度。
高效數(shù)據(jù)處理:與自主研發(fā)的數(shù)字脈沖處理器 DPP + 結(jié)合,可處理更高的計數(shù)率,從而縮短測量時間或提高測量結(jié)果的重復性。
靈活的測量配置:具備 4 倍可更換的孔徑和 6 倍可更換的濾片,能為不同的測量任務創(chuàng)造理想的激發(fā)條件,測量光斑約為 ø0.25mm。
用戶友好設(shè)計:儀器操作界面友好,通過功能強大的 WinFTM® 軟件可在電腦上完成所有操作、數(shù)據(jù)計算和報表顯示。內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng),搭配激光指針,便于樣品放置和測量點定位。
儀器保證:我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運之前均經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。 |
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