SANTEC/IFM-100/OCT 干涉儀模塊

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詳細資料：

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產(chǎn)品概述：

圣德科 IFM-100 是一款馬赫 - 曾德爾干涉儀模塊。它主要用于光學相干斷層掃描（OCT）系統(tǒng)，可為 OCT 系統(tǒng)添加可見激光作為成像引導。IFM-100 能夠為 OCT 系統(tǒng)添加可見激光作為成像引導，有助于更清晰地觀察和定位測量區(qū)域，其配置通常可根據(jù)每個客戶的 OCT 系統(tǒng)配置進行定制，還可包含相位敏感 OCT（PS-OCT）功能。

產(chǎn)品特點:

除了可添加可見激光作為成像引導外，還配備了電控光學延遲線，能夠精確控制光程，有助于提高測量精度和系統(tǒng)性能。此外，圣德科還可為 OEM 客戶提供包括邁克爾遜或菲佐干涉儀等定制解決方案，IFM-100 可作為其中一種模塊融入整體解決方案中，為用戶提供多種選擇.  配置定制化：通常可根據(jù)每個客戶的 OCT 系統(tǒng)配置進行定制，能包含相位敏感 OCT（PS-OCT）功能，滿足不同用戶的特定需求。功能多樣化：可添加可見激光作為成像引導，幫助用戶更清晰地觀察和定位測量區(qū)域。還配備電控光學延遲線，能夠精確控制光程，有助于提高測量精度和系統(tǒng)性能。

儀器保證：

我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運之前均經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。