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SANTEC/SPA-110 /Santec SPA-110 掃頻光子學(xué)分析儀
詳細(xì)資料:,
產(chǎn)品概述:
Santec SPA-110掃頻光子學(xué)分析儀以其高分辨率、擴(kuò)展的測(cè)量范圍和掃頻分析能力等特點(diǎn),在光子集成電路測(cè)試、硅光子器件測(cè)試以及光纖元件和組件測(cè)試等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。
產(chǎn)品特點(diǎn):
高分辨率:SPA-110的采樣分辨率為5μm,這一高分辨率使得它能夠輕松識(shí)別光子集成電路(PIC)和硅光子(SiPh)器件內(nèi)的結(jié)構(gòu),為研發(fā)人員提供了更為精細(xì)的分析手段。
擴(kuò)展的測(cè)量范圍:基于SPA-100技術(shù),SPA-110的總測(cè)量范圍從5米擴(kuò)展到了30米。這一增加的范圍允許在光纖設(shè)置中添加光信號(hào)調(diào)節(jié)設(shè)備,如偏振控制器和光開關(guān),從而使其特別適用于對(duì)硅光子電路、光纖元件和緊湊型光纖組件等小型器件進(jìn)行更全面的表征。 掃頻分析能力:SPA-110具備掃頻分析能力,能夠生成類似于光時(shí)域反射儀(OTDR)的跡線,但分辨率和精度更高。這使得它在分析復(fù)雜光子系統(tǒng)的空間分布和故障時(shí)具有顯著優(yōu)勢(shì)。 儀器保證:我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運(yùn)之前均經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)與校驗(yàn)。也可申請(qǐng)國(guó)家計(jì)量證書。 |
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