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SANTEC/STS /Santec STS 光學(xué)器件掃描系統(tǒng)

SANTEC/STS /Santec STS 光學(xué)器件掃描系統(tǒng)
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Santec STS 光學(xué)器件掃描系統(tǒng)/SANTEC縮略圖

詳細(xì)資料：

Santec STS光學(xué)器件掃描系統(tǒng)是光學(xué)器件研發(fā)和生產(chǎn)現(xiàn)場的理想評估工具。它整合了可調(diào)諧激光器、光功率計、偏振控制單元和專用軟件，可對光學(xué)器件的相關(guān)特性進(jìn)行高效測量。

特點(diǎn)

系統(tǒng)組成：主要由TSL系列可調(diào)諧激光器、MPM系列多端口功率計、PCU-110偏振控制單元和定制軟件構(gòu)成。

測量原理：通過同時獲取通過被測器件（DUT）傳輸?shù)墓夤β剩瑫r實(shí)時參考可調(diào)諧激光器的輸出功率，來進(jìn)行高精度測量。系統(tǒng)采用穆勒矩陣法計算偏振相關(guān)損耗（PDL）。

可實(shí)現(xiàn)高精度插入損耗（IL）、波長相關(guān)損耗（WDL）和PDL特性測量，IL再現(xiàn)性<±0.02dB，PDL再現(xiàn)性為±0.01dB。具備縮放算法，能以高波長分辨率和波長精度進(jìn)行測量，還可減少測量時間。支持多通道測量，具有圖形用戶界面和DLL支持，方便配置測量參數(shù)與數(shù)據(jù)分析，WDL測量動態(tài)范圍超過80dB。

主要用于光學(xué)器件研發(fā)和生產(chǎn)過程中，對密集波分復(fù)用（DWDM）器件、陣列波導(dǎo)光柵（AWG）、波長選擇開關(guān)（WSS）等各類光器件的IL、WDL、PDL等參數(shù)進(jìn)行測量和評估。