其它/PDL-201/求購|general photonics PDL-201 偏振相關(guān)損耗 （PDL） 萬用表

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詳細(xì)資料：

產(chǎn)品描述

General Photonics PDL-201 偏振相關(guān)損耗測試儀采用專利最大/最小值搜尋法（符合TIA/EIA-455-198標(biāo)準(zhǔn)），能夠在30毫秒內(nèi)同時測量器件的偏振相關(guān)損耗（PDL）、插入損耗（IL）和光功率。與擾偏法相比，該技術(shù)能系統(tǒng)性地搜索最大和最小透過率，確保高、低PDL值器件在任何時刻的測量精度，無需波長校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法的測量更準(zhǔn)確。適用于DWDM器件、光纖傳感元件等無源器件的快速精確表征。

主要特點(diǎn)

超快測量速度：30 ms完成單次測量（輸入功率>-30 dBm）

寬波長范圍：覆蓋1260~1620 nm，無需波長校準(zhǔn)

高測量精度：PDL精度±(0.01 + 5% PDL) dB，分辨率0.01 dB

大動態(tài)范圍：PDL和IL動態(tài)范圍均為0~45 dB

模擬電壓輸出：0~4V PDL監(jiān)控電壓，便于系統(tǒng)集成

高亮OLED顯示屏：提供清晰直觀的讀數(shù)顯示

豐富通信接口：USB、以太網(wǎng)、RS-232、GPIB，支持遠(yuǎn)程控制

功率計(jì)功能：集成光功率測量，精度±0.25 dB產(chǎn)品描述

General Photonics PDL-201 偏振相關(guān)損耗測試儀采用專利最大/最小值搜尋法（符合TIA/EIA-455-198標(biāo)準(zhǔn)），能夠在30毫秒內(nèi)同時測量器件的偏振相關(guān)損耗（PDL）、插入損耗（IL）和光功率。與擾偏法相比，該技術(shù)能系統(tǒng)性地搜索最大和最小透過率，確保高、低PDL值器件在任何時刻的測量精度，無需波長校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法的測量更準(zhǔn)確。適用于DWDM器件、光纖傳感元件等無源器件的快速精確表征。

主要特點(diǎn)

超快測量速度：30 ms完成單次測量（輸入功率>-30 dBm）

寬波長范圍：覆蓋1260~1620 nm，無需波長校準(zhǔn)

高測量精度：PDL精度±(0.01 + 5% PDL) dB，分辨率0.01 dB

大動態(tài)范圍：PDL和IL動態(tài)范圍均為0~45 dB

模擬電壓輸出：0~4V PDL監(jiān)控電壓，便于系統(tǒng)集成

高亮OLED顯示屏：提供清晰直觀的讀數(shù)顯示

豐富通信接口：USB、以太網(wǎng)、RS-232、GPIB，支持遠(yuǎn)程控制

功率計(jì)功能：集成光功率測量，精度±0.25 dB

儀器保證：

我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運(yùn)之前均經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測與校驗(yàn)。也可申請國家計(jì)量證書。