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其它/Luna 6400/general photonics Luna 6400 Lightwave 元件分析儀
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詳細(xì)資料:
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產(chǎn)品描述
Luna 6415 和 Luna 6435 利用光頻域反射法 (OFDR) 技術(shù)來測量反向散射光或透射光與距離的關(guān)系。極高的靈敏度和采樣分辨率 (20 μm) 使 6400 系列成為光子集成電路 (PIC)、硅光子學(xué)、無源元件以及光纖網(wǎng)絡(luò)和組件的理想解決方案。Luna 6400 系統(tǒng)通過使用一臺儀器測量 RL、IL 和反射或傳輸?shù)拈L度/延遲,降低了測試的成本和復(fù)雜性,
儀器保證:
我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運(yùn)之前均經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測與校驗(yàn)。也可申請國家計量證書。