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Exfo/EXFO CT440/CT440-PDL 光學元件測試儀/光學元件測試儀
- Exfo/EXFO CT440/CT440-PDL 光學元件測試儀/光學元件測試儀
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詳細資料：
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產(chǎn)品概述：
EXFO CT440/CT440-PDL光學元件測試儀以其高精度、多通道測量、可調(diào)諧激光器兼容以及偏振保持和偏振相關損耗測量等特點，成為光纖通信和光網(wǎng)絡測試領域的重要工具。
產(chǎn)品特點：
測試范圍廣泛：
覆蓋從1240到1680nm的頻譜范圍，適用于整個電信波段上的測量。
可同時測量無源光器件（如復用器/解復用器、濾波器、分光器等）和模塊（如ROADM、WSS）的性能。
高精度測量：
波長精準度達到±5pm，波長分辨率在1至250pm之間可調(diào)。
單次激光器掃描的動態(tài)范圍為65dB，確保測量的準確性。
多通道測量：
配備四個內(nèi)部檢測器，支持同時測量四個通道，提高測試效率。
可調(diào)諧激光器兼容：
最多可結(jié)合4個可調(diào)諧激光器（SMF型號），實現(xiàn)無縫的全波段測量。
完全兼容EXFO的T200S/T500S和T100S-HP連續(xù)可調(diào)諧激光器。
偏振保持（PM）和偏振相關損耗（PDL）測量：
CT440-PDL型號集成了一個偏振態(tài)發(fā)生器，能夠鑒定插損和偏振相關損耗的頻譜（基于穆勒矩陣法）。
可選購偏振保持（PM）光纖，用于測量對偏振敏感的器件（如MZ調(diào)制器）的插損。
儀器保證：
我們的大多數(shù)設備在裝運之前均經(jīng)過嚴格的質(zhì)量檢測與校驗。也可申請國家計量證書。
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